Godło Polski oraz logotyp Głównego Urzędu Miar

Chińscy metrolodzy z Jiangsu Institute of Metrology z wizytą w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym Głównego Urzędu Miar

Strona główna » Chińscy metrolodzy z Jiangsu Institute of Metrology z wizytą w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym Głównego Urzędu Miar

Chińscy metrolodzy z Jiangsu Institute of Metrology z wizytą w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym Głównego Urzędu Miar

15 października 2025 r. gościliśmy delegację Jiangsu Institute of Metrology z Nankinu, jednej z wiodących instytucji metrologicznych w Chinach, specjalizującej się w badaniach, wdrażaniu i utrzymaniu miar oraz standardów publicznych, a także współpracy międzynarodowej i zaawansowanych projektach badawczo-rozwojowych.

Delegacji przewodniczyli Wu Jun – Kierownik Zakładu Badań Wyrobów oraz Liu Hui – Kierownik Zakładu Metrologii Długości z Prowincjonalnego Instytutu Metrologii w Jiangsu. W skład grupy weszli również Jiang Xiaoxiong (Kierownik Zakładu Metrologii Transportu), Zhu Jianbing (Kierownik Działu Zarządzania Informatyzacją) oraz przedstawiciele EU-CERT Sp. z o.o. – Liu Henghao (Prezes Zarządu) i Hou Yongwang (Dyrektor Działu Współpracy Międzynarodowej).

Goście zapoznali się z ofertą badawczo-rozwojową GUM, zwiedzili nowoczesne laboratoria kampusu oraz wymienili doświadczenia z zakresu metrologii, standardów technicznych i cyfrowej transformacji pomiarów. Wizycie ze strony GUM przewodniczył Andrzej Kurkiewicz, Dyrektor Departamentu Innowacji i Rozwoju.

Spotkanie podkreśliło znaczenie współpracy międzynarodowej oraz wymiany wiedzy w metrologii dla innowacyjności i rozwoju gospodarki.

Dziewięć osób pozuje do zdjęcia na tle makiety Kampusu GUM.