W dniach 17–18 czerwca 2026 r. w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym Głównego Urzędu Miar w Kielcach odbyły się Warsztaty Metrologiczne MetroTech, organizowane przez Polską Unię Metrologiczną oraz Politechnikę Lubelską. W wydarzeniu wzięli udział studenci, doktoranci, pracownicy naukowi i dydaktyczni, przedstawiciele instytutów badawczych, szkół ponadpodstawowych oraz sektora przemysłowego. Tak szerokie grono uczestników stworzyło wyjątkową przestrzeń do wymiany wiedzy i doświadczeń. Podczas warsztatów poruszone zostały kluczowe zagadnienia współczesnej metrologii, m.in.:
🔹 zastosowanie sztucznej inteligencji w pomiarach współrzędnościowych
🔹 termografia i termowizja w podczerwieni
🔹 interferometria laserowa
🔹 mikro- i nanotomografia
🔹 morfologia powierzchni
Spotkanie było nie tylko okazją do pogłębienia wiedzy, ale również do nawiązywania kontaktów, budowania współpracy oraz wspólnego poszukiwania rozwiązań problemów pomiarowych — zarówno w nauce, jak i w przemyśle. Warsztaty potwierdziły, jak ważna jest metrologia w rozwoju nowoczesnych technologii oraz kształtowaniu przyszłych kadr inżynierskich i naukowych.
