Wzorce i procedury kalibracyjne dla mikroskopów z sondą skanującą: droga do nanoświata

Zapraszamy do świata nanotechnologii, gdzie przy użyciu najnowocześniejszych mikroskopów z sondą skanującą dokonuje się badania i kalibracji nanostruktur. Projekt „Wytworzenie oraz charakterystyka nanostruktur do kalibracji mikroskopów ze skanującą sondą” to innowacyjna inicjatywa, która ma na celu opracowanie precyzyjnych procedur kalibracji mikroskopów sił atomowych (AFM) oraz skaningowych mikroskopów tunelowych (STM). Powyższe zdjęcie przedstawia pomiar kalibracyjnej próbki złota wykonany z wykorzystaniem STM, na którym widzimy atomy złota oraz zakończenie tarasu (jednej z warstw atomów złota).

W ramach tego projektu, Instytut Fizyki Wydziału Nauk Ścisłych i Przyrodniczych (UJK) w Kielcach (koordynator) wraz z Instytutem Mikroelektroniki i Fotoniki – Sieć Badawcza Łukasiewicz w Piasecznie (IMiF) oraz Instytutem Nauk Chemicznych Wydziału Chemii (UMCS) w Lublinie, przeprowadzą intensywne badania materiałów w nanoskali, opracują zaawansowane procedury kalibracyjne oraz wytworzą nowe nanostruktury o niezwykłej precyzji. Dzięki współpracy z Zakładem Czasu i Długości GUM projekt przyczyni się do optymalizacji stanowisk pomiarowych w GUM do charakterystyki nanomateriałów, co wpłynie istotnie na rozwój metrologii w Polsce.

Wierzymy, że nasz projekt nie tylko zwiększy zdolności pomiarowe kraju, ale także przyczyni się do komercjalizacji opracowanych procedur i wzorców.

Projekt dofinansowany ze środków budżetu państwa, przyznanych przez Ministra Edukacji i Nauki w ramach programu Polska Metrologia II (numer rej. PM-II/SP/0044/2024/02)