Godło Polski oraz logotyp Głównego Urzędu Miar

Ambasador Wietnamu z wizytą w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym GUM

Strona główna » Aktualności
Ambasador Wietnamu z wizytą w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym GUM

24 kwietnia br., w ramach wizyty Ambasadora Socjalistycznej Republiki Wietnamu w Kielcach, Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny Głównego Urzędu Miar gościł delegację z Ambasady Socjalistycznej Republiki Wietnamu w Rzeczypospolitej Polskiej. W skład delegacji weszli J.E. Pan Ha Hoang Hai, Ambasador Nadzwyczajny i Pełnomocny Socjalistycznej R...

read more
IV Międzynarodowe Targi Polsecure 2026

Od 21 do 23 kwietnia Targi Kielce gościły IV Międzynarodowe Targi POLSECURE, najważniejsze wydarzenie branży bezpieczeństwa publicznego w Polsce, organizowane przy wsparciu Komendy Głównej Policji oraz służb mundurowych i kluczowych instytucji. Wydarzenie poświęcone funkcjonariuszom i pracownikom służb podległych MSWiA: Pol...

read more
Pogrzeb profesora Jacka Semaniaka

Pogrążeni w smutku po stracie zapraszamy na uroczystości pogrzebowe śp. prof. Jacka Semaniaka, które odbędą się w środę, 17 grudnia 2025 r. o godz. 12:00 w Bazylice Katedralnej w Kielcach pod przewodnictwem ks. bp. Jana Piotrowskiego, ordynariusza diecezji kieleckiej. Po Mszy Świętej przejdziemy w kondukcie żałobnym na Cmentarz St...

read more
Nie żyje Prezes GUM Jacek Semaniak

Z wielkim smutkiem przekazujemy wiadomość o śmierci profesora Jacka Semaniaka, Prezesa Głównego Urzędu Miar. Profesor Jacek Semaniak został powołany na stanowisko prezesa dnia 9.11.2020 r. Przez 5 lat kierowania urzędem ukierunkował Główny Urząd Miar w zakresie działalności badawczo-rozwojowej popr...

read more
Kooperacja dla biznesu

Strategie wejścia na rynki zagraniczne, finansowanie eksportu i inwestycji oraz dobre praktyki z udziałem polskich firm zostały zaprezentowane podczas szkolenia zorganizowanego przez Polską Agencję Inwestycji i Handlu i Krajową Izbę Gospodarczą, które odbyło się 20.11.2025 r. Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym GUM w Kielcac...

read more