Godło Polski oraz logotyp Głównego Urzędu Miar

Specjaliści od patentów w Kampusie GUM

Strona główna » Aktualności » Strona 3
Specjaliści od patentów w Kampusie GUM

44 Seminarium Rzeczników Patentowych Szkół Wyższych, którego współorganizatorem od lat jest Politechnika Świętokrzyska rozpoczęło się w poniedziałek w Cedzynie koło Kielc i potrwa do piątku. Po pierwszym dniu obrad, goście odwiedzili Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny GUM i zapoznali się z ofertą naukowo-badawczą, skier...

read more
28. posiedzenie organizacji DUNAMET

W dniach 18-19 września 2025 r. w Kielcach odbyło się 28. spotkanie DUNAMET, w którym udział wzięli przedstawiciele GUM, BEV, ČMI, SMU i BFKH. DUNAMET jest organizacją, która zrzesza Krajowe Instytucje Metrologiczne z Polski, Austrii, Czech, Chorwacji, Słowacji oraz Węgier i ma na celu zacieśnianie współpracy pomiędzy członkami popr...

read more
Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny na 33. MSPO

Początek września to czas największej imprezy targowej w Kielcach, na której spotykają się najważniejsze na rynku koncerny zbrojeniowe świata, politycy, wojskowi i naukowcy. Od wtorku trwa XXXIII Międzynarodowy Salon Przemysłu Obronnego. Świętokrzyski Kampus Laboratoryjny GUM wraz z Politechniką Świętokrzyską przygotowali stoisko...

read more
Spotkania w ramach polskiej prezydencji w Radzie Unii Europejskiej

Spotkanie główne Dyrektorów Narodowych Instytutów Metrologicznych UE oraz przedstawicieli Państw Partnerstwa Wschodniego znalazło się w oficjalnym kalendarzu KPRM najważniejszych wydarzeń organizowanych w ramach polskiej prezydencji. Dotyczyło „Roli sztucznej inteligencji w metrologii”. Uczestnicy spotkania poruszali kwestie dotycząc...

read more